年度	2010
全部作者	陳科宏,Shao-Chang Huang, Ke-Horng Chen, Hsin-Ming Chen, Michael Ho, and Shih-Jye Shen
論文名稱	ESD Avoiding Circuits for Solving OTP Memory Falsely Programmed Issues
期刊名稱	IEEE CAS Magazine
卷數	Vol. 10
期數	Issue 2
頁碼	30-39
語言	英文